Visuelle Zusammenarbeit an elektronischen Informationen
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Der vermehrte Einsatz von elektronischen Komponenten in Alltagsprodukten ist für immer mehr Unternehmen eine große Herausforderung: Wie können sie beliebig vielen Personen im Unternehmens die Anzeige und Abfrage von digitalen Konstruktionsinformationen ermöglichen?
PTC Creo View ECAD ist sehr flexibel und sehr schnell. Über eine intuitive, aufgabenbasierte Benutzeroberfläche wird eine das schnelle und einfache Visualisieren von PCB-Konstruktionen ermöglicht. Dadurch werden wertvolle Einblicke in die technische Konstruktion erlangt. Creo View ECAD von PTC unterstützt Leiterplattendaten aller gängigen EDA-Tools und Bilder, Zeichnungen und Dokumente aus vielen Quellen, ohne dass die eigentlichen Dokumenterstellungsprogramme benötigt werden. Da PTC Creo View ECAD und PTC Creo View MCAD auf der selben Basis entwickelt wurde, stehen Benutzern der beiden Anwendungen einzigartige Funktionen wie Quer-Untersuchungen zwischen ECAD und MCAD Abstraktionen zur Verfügung. Das kleine und doch genaue 3D-Visualisierungsobjektformat ermöglicht einen schnellen Zugriff auf komplexe Informationen. Dadurch verringert sich der Überarbeitungs-Aufwand, und der Entscheidungs-Prozess wird optimiert. Zusammenarbeit für jedermann – ob in Echtzeit oder mithilfe von Markups.
Folgendes wird Ihnen durch ECAD-Erweiterungen ermöglicht:
- Schnelle Ermittlung der Differenzen zwischen zweier Versionen von Fertigungsgrafiken, eines Leiterplattenschaltbilds oder eines Leiterplattenlayouts
- Anzeige der Unterschiede zweier ECAD-Konstruktionen oder zwischen MCAD- und ECAD-Konstruktionen
Apps
- PTC Creo View ECAD
- PTC Creo View Lite
- PTC Creo View Express
PTC Creo View ECAD Extensions
- PTC Creo View ECAD Compare
- PTC Creo View Adapters
Funktionen und Vorteile
- Durchsuchen von CAE-Datenbanken mit Schemadiagrammen oder CAD-Datenbanken mit physischen Leiterplatten ohne ECAD-Konstruktionstools zum Abrufen von Bibliotheks-, Schemadiagramm-, Leiterplatten- und Stücklistendaten
- Visualisierung des kompletten elektronischen Produkts, einschließlich des zugehörigen 3D-Modells
- Abfragen von intelligenten Konstruktions-Daten mit Komponenten-, Stift- und Netzattributen
- Verfolgen der Netzkonnektivität vom Schema zur Leiterplatte mit der Stiftfunktion zur Identifizierung des Ausgangspunkts schwacher Signale
- Weiterleiten von Änderungen, Kommentaren oder Redline-Daten in mehreren Sprachen an den EDA-Anwender
- Verkürzung der Konstruktionszykluszeit um bis zu 35 %, signifikanter Produktivitätsgewinn bei Leiterplattentests
Grundlagen
- Demos & Technische Tipps
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